STRUMENTI XRF

Siner X é uno strumento a fluorescenza a raggi X per finalizzato all'analisi dei materiali:

  • Analisi qualitativa e quantitativa per la determinazione della composizione del campione;
  • Misura dello spessore dei rivestimenti.

Sorgente a raggi X

  • Anodo: Ta
  • Massima tensione: 40 kV
  • Massima corrente: 100 μA
  • Raffreddamento

Rivelatore Si-PIN

  • Risoluzione: 180 eV
  • Finestra di Be: 0,5 mm
  • Cella Peltier
  • Elementi identificabili: Z > 16 (Zolfo)

SinRX software

  • Analisi di campioni omogenei e di strati sottili tramite il metodo dei "parametri fondamentali"
  • Compatibile con WindowsXP, Windows Vista, and Windows 7,Windows 8, Windows 10
  • Supporta vari formati di file spettro come mca, csv, spx, snx
  • Analisi con e senza standards
  • Flessibile e facile da usare